Specht E.D., Holesinger T.G., Feenstra R., Puig T., Palau A., Obradors X., Gapud A.A., Feldmann D.M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, RABITS process, grain boundaries, critical current density intergranular, grain size, microstructure, measurement technique, thickness dependence, fluorine process, percolation model, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Agarwal S.K.(agarwal@mail.nplindia.ernet.in), Kumaraswamy B.V.
Chikumoto N., Otsuka M., Tajima S., Oishi M.(m202104@sic.shibaura-it.ac.jp), Kato J.
Holzapfel B., Freyhardt H.C., Puig T., Obradors X., Usoskin A., Fernandez L., Palau A.(palau@icmag.es)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.